導讀
從電(diàn)子手表到電(diàn)腦再到各類移動通信産(chǎn)品，我們不難發現電子電器産品已經和我們的生活息息相關瞭(le)。而我們消費者對産品質量越來越高的要求，使得各個生産廠家不得不嚴格把控産品質量 ，對産品或生産過程中出現的異物甚至異常顔色進行分析 ，進而確(què)定來源，優化産品質量。異物分析也是失效分析的一種 ，通過分析和驗證，找出失效的原因，挖掘出失效的機理。微小異物的尋根探源，在提高産(chǎn)品質量、技術開發(fā)和改進、産(chǎn)品修複及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義 。
對(duì)於(yú)異物或異色的分析，由於(yú)待分析的異物樣品較小 ，顯微紅外法的優勢得以體現。紅外顯微鏡是用光學顯微鏡觀察微小樣品，再把紅外光路引入到顯微鏡中，調節可變(biàn)光闌的大小，選擇測(cè)試樣品中的某一微區 ，紅外光聚焦後，進行紅外分析。島津紅外顯微鏡AIM-9000，可實現330倍連續放大，大範圍廣角相機快速尋找異物點 ，自動識别異物位置，同時能做到異物光譜自動分析 、自動對焦，在測(cè)量的同時觀測(cè)測(cè)量位置，確(què)保異物點測(cè)量位置零偏移。
樣品1：手機鏡頭上的白色異物 。
将異物取出，放在金剛石池中壓制後 ，置於(yú)紅外顯微鏡下，透過法測(cè)試。
樣品2：PCB闆焊錫(xī)位置異(yì)物。無需前處(chù)理 ，樣品直接放置在紅外顯微鏡下，反射法測(cè)試。
上圖中 ，黑色譜圖爲焊錫不良處(chù)的紅(hóng)外譜圖 ，紅(hóng)色譜圖爲IRON NAPHTHENATE（環(huán)烷酸鐵(tiě)鹽）的标準紅外譜圖，兩圖在多處(chù)出峰位置一緻，推斷(duàn)樣品中含有環烷酸類物質。
經譜圖檢索顯示，異物分别爲SKIN（皮屑）和IRON NAPHTHENATE（環(huán)烷酸鐵(tiě)鹽）。皮屑，可能是人員操作過程中引入，而環烷酸類物質，可能爲鍍層(céng)過程中使用的清洗劑殘(cán)留。異物結果，快速指向問題環節。
結語
在電子電氣行業，生産(chǎn)工藝流程複雜，使用的物料衆多，操作流水線上的微小疏漏，都會導緻産(chǎn)品中出現不明異物。這不僅影響産(chǎn)品外觀、産(chǎn)品質量，甚至會導緻生産(chǎn)停滞，以至於(yú)給企業帶來不可估量的經濟損失。島津的紅外顯微鏡AIM-9000配置的大視野相機，可以幫(bāng)助我們搜羅異物的蛛絲馬迹，迅速定位目标；高靈敏度的MCT檢測(cè)器，幫(bāng)助我們定性分析異物類型，快速指向來源。
